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portada Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales (in French)
Type
Physical Book
Language
French
Pages
88
Format
Paperback
Dimensions
22.9x15.2x0.5 cm
Weight
0.14 kg.
ISBN13
9786207393596

Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales (in French)

Tao Sun (Author) · John Zhang (Author) · Editions Notre Savoir · Paperback

Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales (in French) - Zhang, John ; Sun, Tao

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R 717

Synopsis "Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales (in French)"

L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.

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The book is written in French.
The binding of this edition is Paperback.

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